Expertensuche
Durch die Eingabe mehrerer Suchbegriffe und dem Wort AND zwischen den Suchbegriffen schränken Sie die Suche ein (UND Verknüpfung). Weiter sind Wildcards wie (*) für eine beliebige Buchstabenfolge und (?) für einen einzelnen Buchstaben bei der Suche zulässig. Das Tilde-Symbol (~) an Ende eines einzelnen Wortes unterstützt die undeutliche Suche.
Suchergebnisse
Resultate 491 bis 500 von insgesamt 500
-
- Relevanz: 100%
Einweihung PICO
Einweihung des Elektronenmikroskops PICO, im Bild (v. l.): Prof. Knut Urban, JARA Seniorprofessor und ehemaliger Direktor des Ernst Ruska-Centrums, Prof. Achim Bachem, Vorstandsvorsitzender Forschungszentrum …
http://www.kapakrit.de/SharedDocs/Bilder/PORTAL/DE/pressebilder/PM2012/12-02-29PICO_450.html
[Bild] Jetzt ansehen
29.02.2012
-
- Relevanz: 100%
16.02.2011
-
- Relevanz: 100%
CoreNeuron
JSC - Jülich Supercomputing Centre
http://www.kapakrit.de/ias/jsc/EN/Expertise/High-Q-Club/ZFS/ZFS.html
[Bild] Jetzt ansehen
31.08.2011
-
- Relevanz: 100%
Titel themenTeaserBaustein
ICS-7
Kurztext themenTeaserBaustein
http://www.kapakrit.de/ics/ics-7/DE/Forschung/MethodenUndVerfahren/Rasterkraftmikroskopie/themenTeaserBaustein.html
[Textbaustein] Jetzt lesen
06.07.2010
-
- Relevanz: 100%
ZFS
JSC - Jülich Supercomputing Centre
A multiphysics framework for compressible and incompressible flow, aeroacoustics, and combustion phenomena.
http://www.kapakrit.de/ias/jsc/EN/Expertise/High-Q-Club/ZFS/themenTeaserBaustein.html
[Textbaustein] Jetzt lesen
06.07.2010
-
- Relevanz: 100%
Rasterkraft-Mikroskopie
ICS-7
Die Rasterkraftmikroskopie (engl. Atomic Force Microscopy, AFM) ist eine Methode, eine Oberfläche im Bereich von Mikrometern bis zu Nanometern aufzulösen. In unserem Institut ist das AFM mit einem inversen …
http://www.kapakrit.de/ics/ics-7/DE/Forschung/MethodenUndVerfahren/Rasterkraftmikroskopie/artikel.html
[Artikel] Jetzt lesen
06.07.2010
-
- Relevanz: 100%
16.09.2013
-
- Relevanz: 100%
30.10.2015
-
- Relevanz: 100%
30.10.2015
-
- Relevanz: 100%
29.02.2012
Neue Suche
